GB/T 35445-2017 絲 生絲疵點、條干電子檢測試驗方法，PDF

GB/T 35445-2017 絲 生絲疵點、條干電子檢測試驗方法Silk—Electronic test method for defects and evenness of raw silk
3 L1 l+ d+ S8 m5 }" h4 u3 d* a( W6 W本標準規定了采用電容和光電生絲電子檢測儀對生絲疵點、條干進行檢測的試驗方法。
. k- @- [3 A) o9 n本標準適用于名義纖度在13.3 dtex～76.7 dtex (12 den～69 den)的絞裝和筒裝生絲、浸泡絲。
2 r0 T# ~2 j6 m! a* ?  ]9 }5 D GBT 35445-2017 絲 生絲疵點、條干電子檢測試驗方法.zip (805.45 KB, 下載次數: 3)

2018-3-21 20:58 上傳

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